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本文標(biāo)題："電子顯微鏡要在超低溫下進(jìn)行實驗-精確的測量分子"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2013-1-30 22:29:37 本站主頁地址：http://m.bailemeng6.cn
原子力顯微鏡(Atomic force microscopy, AFM)來觀察分子影像。
原子力顯微鏡是以1個極其微小的金屬探針在物品表面進(jìn)行掃描，
樣品表面會和金屬探頭產(chǎn)生微小的作用力，收集作用力大小變化的訊號藉以描述物品表面的狀況。
在銅制金屬探針上黏1個更小的簡單分子作為掃描式顯微鏡的探頭，他們選用的分子是一氧化碳(carbon monoxide, CO)，
一氧化碳是由1個碳原子和1個氧原子組成的小分子。由1個一氧化碳分子構(gòu)成的探頭，能準(zhǔn)確的記錄原子表面，讓科學(xué)家“看”到世上1個單分子影像。
如何精確的測量分子表面，一直都是科學(xué)家面臨最大的難題與挑戰(zhàn)，測量過程中必須避免來自外在環(huán)境的種種干擾，
小小的震動都會影響影像畫面。也許你無法想像，室溫都會提供顯微鏡探針分子能量引起擾動，造成影像模糊，
最后科學(xué)家不得不在攝氏-268度的超低溫下進(jìn)行實驗
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