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本文標題："定量金相方法可應(yīng)用于SEM電子顯微鏡的復型觀察"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2015-5-13 12:46:35 本站主頁地址：http://m.bailemeng6.cn
定量金相方法可應(yīng)用于SEM電子顯微鏡的復型觀察
電子金相試驗中的定量測量;的定量金相方法可
應(yīng)用于SEM 的復型觀察和對拋光和浸蝕試樣的SEM 觀察，但對
于TEM 中薄膜試樣觀察時，只有在薄膜厚度遠少于組織要素時
才能應(yīng)用，因為當大于或等于組織特征時，
則在薄膜厚度內(nèi)的粒子和薄膜上下表面截割粒子都可成像，
這樣會比反射光顯微鏡得到更多的信息，薄膜的厚度又是不均
勻的，所以就很難進行測量數(shù)據(jù)的計算與分析。
當所研究的相的相對量很少量，粒子重疊就不是主要問題，
可以在已知薄膜厚度的條件下用體視學方法進行定量測量，萃
取復型可用于求出第二相粒子的大小、分布、平均顆粒大小和
標準偏差，但由于不可能萃取到100%的第二相粒子，所以不能
精確測定體積分率，直徑為10-1000nm 的粒子可以用萃取復型
測量，而極小的粒子用薄膜試樣測量較好。
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