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本文標(biāo)題："表面質(zhì)量的檢驗礦物分析圖像顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2019-10-25 1:54:46 本站主頁地址：http://m.bailemeng6.cn
表面質(zhì)量的檢驗礦物分析圖像顯微鏡
a．邊彎曲度 磚一條邊的中點(diǎn)偏離由該邊兩角為直線的距離。長
方形磚以長度和寬度的百分?jǐn)?shù)表示。正方形磚以邊長的百分?jǐn)?shù)表示。
L中心彎曲度 磚的中心點(diǎn)偏離由磚4個角中3個角所作平面的距離
，以對角線長的百分?jǐn)?shù)表示。
c．翹曲度 磚的3個角決定一個平面，其第4個角偏離該平面的距
離，以對角線長的百分?jǐn)?shù)表示。有間隔凸緣的磚檢驗時用mm表示。
表面質(zhì)量的檢驗
至少檢驗30塊以上的磚組成的不小于lmz的試樣。將磚的正面放置
在lm遠(yuǎn)處垂直觀察，磚的表面用照度為300 1x的燈光均勻地照射，檢
驗被檢驗磚組的中心部分和每個角上的照度，用肉眼觀察被檢驗磚組(
平時戴眼鏡的可戴上眼鏡)。檢驗的準(zhǔn)備和檢驗不應(yīng)是同
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