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本文標題："詳細的外觀細微檢查用光學顯圖像顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-6-3 15:02:25 本站主頁地址：http://m.bailemeng6.cn
詳細的外觀細微檢查用光學顯圖像顯微鏡
若在完成所有非破壞性評估之后還未找出原因，便著手進行破壞性
分析。此外，還須仔細籌劃分析順序，使在完成每一不可逆步驟之前能
獲得最多信息。細心、詳細的內(nèi)部外觀檢查和照片資料既是解決問題、
又是決定下一步采用哪種分析技術(shù)的最有效方法。往往可以確定印制線
路組件中的過應(yīng)力路徑以及近似的電流與電壓大小、源為高阻抗或為低
阻抗。然后，可以使正常的元件處于受力狀態(tài)、觀察是否能復制出現(xiàn)場
故障。外觀檢查還能提供有關(guān)污染、不良的電氣互連、導電膜和非導電
膜、粘附不牢固以及制造缺陷和處理缺陷的信息。分析到此時，經(jīng)駿表
明，可以查出大約三分之二的元件故障原因，改進措施在此時便可著手
實施。
對于余下的三分之一元件，可以采用許多種方法。這些方法將依據(jù)
前面分析所搜集到的信息加以選擇。
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